250 MSPS、14位直流耦合高速同步采集卡
产品简介：
PXle/PCle-YQ7254是一款250 MSPS、14位的高速数字化仪，交替采样模式下，采样率250M SPS，底噪小于±1mV，可用于构建多通道、高密度、同步采集系统。
产品特点：
高速、高分辨率:250 MSPS、14bit
底噪小：±1mV
同步精度高:5pS(RMS)
易扩展:支持多通道、多机箱扩展
易集成:开放FPGA，支持用户自定义算法
技术参数：
采样率 | 250 MSPS |
垂直分辨率 | 14bit |
通道数 | 4通道 |
模拟带宽 | DC-100 MHZ |
耦合方式 | 直流耦合 |
输入阻抗 | 50Ω |
输入信号范围 | 10Vpp，可硬件调节 |
输入接口 | LEMO(可选择SMA接口) |
有效位 | 12bit@1000MHz |
同步性 | <5pS(RMS) |
工作模式 | 触发模式、流盘模式 |
触发模式 | 单次触发、多次触发、连续触发 |
触发源 | 软件触发、通道触发、背板同步触发、外部触发 |
外部触发接口 | 1路，模拟触发，LEMO/SMA接口 |
时钟源 | 板载时钟、外部时钟、背板同步时钟 |
外部时钟接口 | 1路，10 MHz方波，LEMO/SMA接口 |
板载缓存 | 1 GB DDR4,2400MHz |
PCle 接口 | PCle Gen3 x 8 |
最大功耗 | 25 W |
工作温度 | 0℃至 +50℃ |
存储温度 | -30℃至 70°C |
板卡尺寸 | 3U PXIe/PCle，单槽 |
操作系统支持 | Win7及以上32bit/64bit; Linux 64bit |
